ケースレーインスツルメンツ 半導体パラメータ・アナライザ入門セミナ

～　半導体パラメータ・アナライザによる電気特性評価の基本を3時間で学ぶ　～

テクトロニクス　セミナ・ルーム

2019/04/26(金)

14:00-17:00


Greetings 挨拶

半導体パラメータ・アナライザは、高感度の電流/電圧測定、インピーダンス測定、超速IV測定（パルス測定)が1台で簡単、
正確に実現できる測定器として半導体デバイス、材料、電子部品など様々なデバイスの電気特性評価に活用されています。
本セミナでは、半導体パラメータ・アナライザを使用する際に知っておくべき基本知識や注意点を、実演を交えながら解説いたします。
これから電気特性評価を始める方に最適なセミナです。

About 概要

タイトル ケースレーインスツルメンツ 半導体パラメータ・アナライザ入門セミナ
～　半導体パラメータ・アナライザによる電気特性評価の基本を3時間で学ぶ　～
開催日時 2019/04/26(金)
14:00-17:00 （13:45受付開始）　
会場 テクトロニクス　セミナ・ルーム
品川インターシティB棟 6階
JR品川駅 港南口からのアクセス
主催社 テクトロニクス

※本セミナはエンド・ユーザ企業様を対象としております。同業他社様およびフリー・メール・アドレスからのお申し込みはご遠慮いただく場合がございますので、あらかじめご了承ください。

Timetable タイムテーブル

講　師： 営業技術統括部　アプリケーション・エンジニア　大里　一徳
日　時： 2019年4月26日（金）14:00～17:00（受付開始　13:45）

対象者：
半導体パラメータ・アナライザを使用した電気特性試験の基礎を学びたい方
半導体パラメータ・アナライザの導入をご検討されている方
これから新たにセンサ、半導体デバイスなどの電気特性試験を始める方

講義概要：
半導体パラメータ・アナライザの概要
半導体パラメータ・アナライザを使用した測定（実演含む）
　 各種測定(DC IV、CV、超速IV)の注意点電磁気学の基本

yyyy/mm/dd ～ mm/dd
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